廣東專業(yè)ESD-202AX靜電放電發(fā)生器是*IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)要求的測試儀。其大靜電放電電壓
可以達(dá)到20kV，可用于絕大多數(shù)電氣與電子設(shè)備的靜電放電試驗;而且可以保證試驗的可比性和再
現(xiàn)性。易于更換的阻容套件，可方便的進(jìn)行IEC模式、HBM模式及MM模式等三種模式試驗， 適
用于各類半導(dǎo)體器件、電子線路和設(shè)備的靜電放電試驗。該儀器具有性能穩(wěn)定、使用方便等優(yōu)點；

廣東專業(yè)ESD-202AX靜電放電發(fā)生器

產(chǎn)品簡介：

廣東專業(yè)ESD-202AX靜電放電發(fā)生器是可以達(dá)到20KV，可應(yīng)用于絕大多數(shù)電氣與電子設(shè)備的靜電放電試驗；同時可以保證實驗的可比性和再現(xiàn)性，易于更換的阻容套件，可方便進(jìn)行IEC模式HBM模式及MM模式等三種模式試驗，適用各類半導(dǎo)體器件和電子線路和設(shè)備的靜電放電試驗。該儀器具有性能穩(wěn)定，使用方便等優(yōu)點;并且滿足IEC，EN,GB等標(biāo)準(zhǔn)要求。

一、測試標(biāo)準(zhǔn)對照表：

二、儀器配置方案：

1、靜電放電抗擾度試驗

  依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-4-2   GB/T17626.2

試驗?zāi)康模?/span>主要模擬帶電的人體或器物對設(shè)備干擾及破壞情況，用于評點電子設(shè)備抗靜電破壞的能力。

· ESD-202AX靜電放電發(fā)生器實物圖

ESD-202AX特點如下：

 ESD-202AX靜電放電發(fā)生器是*IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)要求的測試儀。其大靜電放電電壓

性能優(yōu)秀 ：放電穩(wěn)定、空氣放電電壓保持5秒以上，真正是*符合標(biāo)準(zhǔn)。
結(jié)構(gòu)緊湊:整機(jī)輕便(約4kg)，結(jié)構(gòu)小巧美觀。
功能齊全:IEC電壓，主機(jī)自動觸發(fā)模式，電壓漸升掃描、正負(fù)循環(huán)切換、用戶自編程等智能功能。

放電精準(zhǔn):空氣放電模式符合標(biāo)準(zhǔn)要求（電壓保持5秒以上），與歐美產(chǎn)品相同。放電基本不受空氣濕度影響，放電重復(fù)性好。業(yè)內(nèi)輕巧的放電槍，附帶輻射干擾很小，且使測試過程非常輕松。

高性價比:主要器件全進(jìn)口，精度高、故障率低，20kV長時間穩(wěn)定工作，系少數(shù)可以取得中國合格評定國家認(rèn)可委員會（CNAS）計量報告的國產(chǎn)靜電放電發(fā)生器。

ESD-202AX技術(shù)參數(shù)：

2、靜電放電測試試驗臺（ESDD）        

·  產(chǎn)品特點：

該靜電放電試驗臺產(chǎn)品嚴(yán)格按照IEC61000-4-2和GB/T17626.2標(biāo)準(zhǔn)的要求為靜電放電試驗專門設(shè)計，使試驗配置更加規(guī)范化，從而提高試驗的重復(fù)性與可比性。本試驗臺還可用于群脈沖和衰減振蕩波等試驗。，從細(xì)節(jié)著手，設(shè)計精良，工藝*，美觀大方，大限度滿足用戶測試需求及高頻干擾測試的擴(kuò)展需要。

· 主要技術(shù)指標(biāo):

木桌：1600mm×800mm×800mm（長×寬×高）              1張（純實木制做，不含任何金屬釘）

參考接地板：2600mm×1700mm×1.0mm（長×寬×厚）       1張（不銹鋼材質(zhì)）

水平耦合板： 1600mm×800mm×1.0mm（長×寬×厚）       1張（不銹鋼材質(zhì)）

垂直耦合板： 500mm×500mm×1.0mm（長×寬×厚）        1張（不銹鋼材質(zhì)）

絕緣襯墊： 1450mm×650mm×0.5mm（長×寬×厚）         1張

接地電纜：470kΩ×2                                    2根

五、試驗方法及環(huán)境

1．測試項目來源

• 當(dāng)人體穿著絕緣材料的織物并且對地絕緣時，在地面上運動時可能積累一定數(shù)量的電荷。當(dāng)人體接觸到與地相連的設(shè)備時就會產(chǎn)生靜電放電。

• 靜電放電時可以在0.5～20ns的時間內(nèi)產(chǎn)生1～50A的放電電流。
• 雖然電流很大但因持續(xù)時間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會對人產(chǎn)生傷害，但對集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。
• 人體可能攜帶的靜電電壓的大值（圖1－2）。例如當(dāng)人體身著化纖織物運動時的充電電流約10－7－10－6A，總的充電電荷約（O.1～5）X10－6 C。人體對地的電容約150～250pF。若以電荷3X10－6 C計，充電電壓可達(dá)5～25KV。當(dāng)放電時在0.5～20ns的時間內(nèi)可達(dá)1～50A的放電電流。

• 二次放電

當(dāng)設(shè)備發(fā)生空氣或接觸放電后，附著在設(shè)備機(jī)殼上的電荷會通過設(shè)備機(jī)殼上的縫隙與設(shè)備內(nèi)部電路板（PCB）或元器件間發(fā)生二次放電。因為設(shè)備內(nèi)部PCB或元器件的阻抗較小，所以二次放電的危害有可能比一次放電更大。

2．靜電放電類型

2．1接觸放電

帶電物體直接接觸設(shè)備表面后的放電過程。

2．2空氣放電

在帶電物體所攜帶的電荷足夠多和電壓足夠高時，在向設(shè)備表面接近的過程中，電壓會擊穿之間的空氣而形成的放電過程。

3．靜電發(fā)生器原理及輸出電流波形（見參數(shù)）

4．試驗等級（見參數(shù)）

5．測試試驗方法

5．1 接地參考平面（GRP）

Ø 厚度不小于0.25mm的銅板、鋁板或厚度不小于0.65mm的其它金屬材料板材。并且安全接地。

Ø 接地參考平面每邊至少伸出受試設(shè)備（EUT）0.5m。小尺寸為1m X 1m。

Ø 受試設(shè)備（EUT）與實驗室墻壁和其它金屬物體間的距離至少1m。

Ø 落地式設(shè)備與接地參考平面間的絕緣支座的厚度為0.1m。

Ø 臺式設(shè)備放在接地參考平面上0.8m高的木桌上。在桌面上放置面積1.6 X 0.8m的水平耦合板，并用一個厚0.5mm的絕緣襯墊將受試設(shè)備、電纜與耦合板隔離。

Ø 如果受試設(shè)備過大而不能保持與水平耦合板各邊的小距離為0.1mm，則使用另一塊相同的水平耦合板放置在距*快短邊0.3m處。兩塊水平耦合板用帶有兩個470kΩ電阻的電纜連接到接地參考平面。

Ø 垂直耦合板尺寸為0.5m X 0.5m，平行受試設(shè)備放置并保持0.1m距離。

5．2試驗布置（見參數(shù)）

5．3 測試步驟

1．確定施加放電的測試點

• 操作人員可能觸及的機(jī)殼上的金屬點；
• 控制臺或鍵盤上的任何點；
• 人機(jī)通訊點，如開關(guān)、按鍵、按鈕等；
• 其它操作人員易接近的區(qū)域、指示器、發(fā)光二極管、縫隙、柵格等；
• 日常使用中需更換電池的電池夾和IC卡的插縫等。

2．選定試驗等級

• 根據(jù)不同產(chǎn)品類型及使用環(huán)境等因素選擇。標(biāo)準(zhǔn)中對不同產(chǎn)品有相應(yīng)的規(guī)定。
• 為了確定產(chǎn)品的故障臨界值，試驗電壓應(yīng)從小值開始。逐漸增加試驗電壓，直至規(guī)定要求的標(biāo)準(zhǔn)。

3．試驗次數(shù)

• 試驗應(yīng)以單次放電的方式進(jìn)行。每個測試點至少施加十次單次放電并且以敏感的極性施加。
• 兩次單獨放電時間間隔至少1秒，如果系統(tǒng)相應(yīng)時間較長，可以延長時間間隔。
• 試驗點和敏感極性的確定通過20次/秒或以上的放電速率進(jìn)行預(yù)測后確定。

4．試驗方法

• 靜電發(fā)生器應(yīng)保持與實施放電的表面垂直。
• 放電時放電回路電纜與受試設(shè)備將距離至少保持0.2m，以免回路電纜產(chǎn)生的電流所產(chǎn)生的電磁場影響試驗結(jié)果。
• 接觸放電和空氣放電應(yīng)選用相應(yīng)的放電頭。
• 在接觸放電的情況下，放電電極應(yīng)在操作放電開關(guān)前與EUT保持接觸。
• 在空氣放電時接觸放電開關(guān)應(yīng)當(dāng)先閉合，放電頭應(yīng)盡可能快的接近EUT。
• 每次放電后放電電極應(yīng)從受試設(shè)備移開，重新充電后再進(jìn)行下一次放電試驗。
• 對具體使用時，旁邊可能放置有其它設(shè)備的受試設(shè)備（EUT）還應(yīng)進(jìn)行水平和垂直耦合板的放電試驗。

六、試驗結(jié)果評估：

試驗結(jié)果要根據(jù)被試設(shè)備的工作條件和功能要求分別加以記錄，以便使設(shè)備制造廠和用戶對設(shè)備進(jìn)行評估。評估結(jié)果如下:

    A、在規(guī)定條件試驗中, 設(shè)備可以正常工作；不受靜電干擾影響；

    B、試驗中設(shè)備出現(xiàn)暫時性的性能下降或功能喪失，但靜電試驗結(jié)束后可自行恢復(fù)；

    C、設(shè)備出現(xiàn)的暫時性能下降或功能喪失，要由操作人員干預(yù)或系統(tǒng)復(fù)位后才能恢復(fù)；

D、設(shè)備由于元部件的損壞、軟件受影響或數(shù)據(jù)丟失而造成不可恢復(fù)的性能下降或功 能喪失。